国内首台GaN动态参数测试系统正式交付

12月8日，合肥高新区再传硬核捷报——巨阙电子自主研发的国内首台GaN动态参数测试系统正式交付。这套“合肥造”高端测试装备，以80路并行测试、动态精度＜1%、保护响应＜1微秒的突破性性能，标志着我国在第三代半导体核心测试领域实现自主“破局”，为国产车规芯片的研发装上了“精准标尺”。

一、“合肥造”破解行业真痛点：从“测不准”到“测得真”

当前国产GaN芯片面临“上车难”困境：进口测试设备难以复现新能源汽车急加速、高海拔、温度骤变等真实工况，导致实验室数据与实车表现存在显著偏差。

案例直击：合肥某GaN车载充电模块企业，其产品在静态测试中效率达98.5%，却在整车实测中因电压瞬态响应不足，效率骤降至96%以下。

合肥方案：巨阙系统可模拟-40℃至150℃全温域、200V/ns高压瞬变场景，已用于江淮悍途越野车高原标定测试，实现“实验室即实况”。

二、三组数据背后的“合肥精度”

1.效率革命：80路并行测试，使芯片验证周期从21天缩短至3天，匹配车企“月更级”研发节奏；

2.精度跃升：动态电阻测量误差＜1%+0.1mΩ，相当于在百米冲刺中精准计量步频变化；

3.成本重构：＜1μS快速保护机制，单台设备年均为企业节约超500万元芯片损毁成本。

“测试装备+”如何重塑合肥产业生态

1.定义权升级：合肥正从“制造基地”转向“标准输出地”——巨阙系统已接入安徽省新能源汽车共性技术研究院，推动国产GaN测试标准落地；

2.数据链打通：构建“芯片测试-模块验证-整车搭载”三级数据闭环，为芯片保险、残值评估提供可信底座；

3.模式创新：巨阙探索“测试即服务”，降低中小企业研发门槛，同时积累千万级芯片性能数据库，孕育半导体领域的“特斯拉保险”模式。

以羲禾园区为核心，合肥正打造“测试装备+”产业集群：

巨阙电子（GaN动态测试）

芯驰科技（车规MCU老化测试）

量准精密（MEMS传感器测试）

目标2027年形成覆盖第三代半导体、车规芯片、智能传感器的完整测试装备链，产值突破50亿元。

转载于：科小皖智库